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宇时UM-4超声波测厚仪,真彩320*240点阵高分辨率显示器，A-扫描快照，过零测量技术，增益三档可调，Z大/Z小值捕获，差值/缩减率模式，高/低限报警，内置多种探头补偿线，厚度值颜色伴随耦合或报警而动态改变。

宇时UM-4D超声波测厚仪,包含UM-4的所有特性，增加回波-回波测量模式，用于穿透涂层测量基材厚度，标配TC510穿透涂层探头。真彩320*240点阵高分辨率显示器，A-扫描快照，过零测量技术，增益三档可调，Z大/Z小值捕获，差值/缩减率模式，高/低限报警，内置多种探头补偿线，厚度值颜色伴随耦合或报警而动态改变。

宇时UM-4DL超声波测厚仪,包含UM-4D的所有特性，增加大容量数据记录器（可存储10万个厚度值），随机包含通讯软件及USB通讯电缆，标配TC510穿透涂层探头。真彩320*240点阵高分辨率显示器，A-扫描快照，过零测量技术，增益三档可调，Z大/Z小值捕获，差值/缩减率模式，高/低限报警，内置多种探头补偿线，厚度值颜色伴随耦合或报警而动态改变。

宇时UM-5超声波扫描测厚仪,彩色实时A/B扫描，过零测量技术，可设置增益、消隐、闸门、范围、延时、射频、倒向射频、正半波、负半波、全波、更新率、B扫描Z大/Z小值等多种参数，耦合或报警时厚度值和波形颜色动态改变。