宇时UM-5超声波扫描测厚仪,彩色实时A/B扫描，过零测量技术，可设置增益、消隐、闸门、范围、延时、射频、倒向射频、正半波、负半波、全波、更新率、B扫描Z大/Z小值等多种参数，耦合或报警时厚度值和波形颜色动态改变。

宇时UM-5D超声波扫描测厚仪,包含UM-5的所有特性：彩色实时A/B扫描，过零测量技术，可设置增益、消隐、闸门、范围、延时、射频、倒向射频、正半波、负半波、全波、更新率、B扫描Z大/Z小值等多种参数，耦合或报警时厚度值和波形颜色动态改变。增加回波-回波测量模式，用于穿透涂层测量基材厚度，标配TC510穿透涂层探头。

宇时UM-5DL超声波扫描测厚仪,包含UM-5D的所有特性：回波-回波测量模式,穿透涂层测量,彩色实时A/B扫描,过零测量技术,可设置增益、消隐、闸门、范围、延时、射频、倒向射频、正半波、负半波、全波、更新率、B扫描Z大/Z小值等多种参数,耦合或报警时厚度值和波形颜色动态改变。增加大容量数据记录器，包含通讯软件及USB通讯电缆,标配TC510穿透涂层探头。

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